紫外試驗老化箱/紫外老化箱對材料分布的影響
 
紫外試驗老化箱/紫外老化箱空間電荷總量及其消散快慢與絕緣材料本身微觀結構有關，對絕緣材料性能存在影響。根據(jù)對空間電荷密度進行積分，求得樣品內(nèi)電荷總量如3.9所示。從3.9中可以看出，去壓后試品內(nèi)總電荷先是迅速衰減，之后呈現(xiàn)緩慢遞減趨勢，但三個不同電老化時間樣品遞減速度是不同的，老化時間越長的樣品電荷消散越慢。
 
根據(jù)中所建立的多能級陷阱理論，可將通過固定熱脫陷常數(shù)ki 來對總電荷消散曲線進行擬合，擬合優(yōu)度在99%以上，擬合結果如3.10所示。盡管三種樣品的電荷在去壓之初都呈現(xiàn)極快的遞減趨勢，但在之后很長一段時間內(nèi)老化時間越長的樣品電荷衰減越慢，最終都趨于零，即內(nèi)部空間電荷完全消除，但需要較長時間。
 
3.7所展現(xiàn)出來的電荷衰減速度差異與樣品內(nèi)部的陷阱分布關系密切。通過擬合獲得熱脫陷常數(shù)ki相對應陷阱能級下的陷阱電荷密度分布。通過上式，可獲得單位體積內(nèi)材料的陷阱電荷密度，如表3.3和3.11所示。
 
紫外試驗老化箱/紫外老化箱很顯然，電老化對材料內(nèi)部陷阱的分布影響很大。老化使陷阱深度靠近但小于0.8eV的陷阱電荷密度減少，同時大大增加了0.85eV附近的陷阱電荷密度。陷阱深度為0.95eV以后的電荷密度分布峰值隨著老化時間的增長逐步后移，深陷阱中的陷阱電荷密度逐漸增加。